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Keithley 4200A-SCS半導體參數(shù)分析儀 使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領xian電學特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。
Raytek® Compact MI3 紅外測溫探頭/高溫計 雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續(xù)非接觸式溫度監(jiān)測的新一代的性能和創(chuàng)新，并廣泛應用于OEM應用和制造工藝中。 MI3紅外測溫儀是一個由一個微型傳感頭和一個獨立的通訊電子系統(tǒng)兩部分組成的測溫系統(tǒng)。微型傳感頭可安裝在大多數(shù)系統(tǒng)中，并在性能上優(yōu)于更大體積的傳感器，使雷泰MI3在同級別紅外溫度傳感器中較有優(yōu)勢。
ThermoView TV40工業(yè)固定式熱成像系統(tǒng)紅外 ThermoView TV40是一款高性能的工業(yè)固定式熱成像系統(tǒng)，通過提供紅外和可見光視頻流，從而能夠?qū)囟葦?shù)據(jù)可視化，幫助加深您對工藝過程的了解。TV40能夠全面地提供集成化的溫度控制、監(jiān)控和數(shù)據(jù)存檔解決方案。
福祿克Raytek® MP150 高速線掃描紅外測溫儀 雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業(yè)環(huán)境中使用，并可以測得運動物體的準確溫度圖像。這種多點測量由一個旋轉(zhuǎn)的光學系統(tǒng)來實現(xiàn)的，它可以在90°視野范圍內(nèi)，在一條直線上收集高達1024點的紅外輻射結(jié)果。
福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測溫儀-華普通用 Raytek® Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測溫儀設計用于滿足眾多工業(yè)應用中的過程性能要求，包括原生和再生金屬加工以及石化和發(fā)電廠運行的苛刻的高溫環(huán)境。 關鍵指標 溫度量程： 700 至 3000ºC (1292 至 5432ºF) 400 至 2000ºC (752 至 3632ºF) 距離系數(shù)比(D:S)：250
日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列 分光光譜儀種類 MCPD-9800：高動態(tài)范圍分光 MCPD-6800：紫外/可見/近紅外光分光光譜儀 MCPD-7700：高感度分光
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的安全機制 易于分析向?qū)В鯇W者也能夠進行光學常數(shù)分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義
德國SPECTRUMA GDA 750 HR輝光放電光譜儀 GDOES光譜儀GDA 550 HR和GDA 750 HR是*大的GDOES光譜儀，非常適合研發(fā)任務?；谀K化概念，可以設想多種選項組合，因此可以為您的應用實現(xiàn)最佳配置。GDA 550 HR主要用于研究您的導電樣品。GDA 750 HR也用于分析不導電樣品。
